首页  学院概况  师资队伍  本科生教学  研究生培养  科学研究  学科与实验室  国际合作  党群工作  学生工作 
 
学院新闻
 通知公告 
 学院新闻 
 学生天地 
 校友之家 
 资料下载 
 
 
当前位置: 首页>>学院新闻>>正文
我院举办“微纳尺度测量与溯源性计量技术”研讨会
2017-06-16 13:07 黎永前 

我院举办“微纳尺度测量与溯源性计量技术”研讨会

6月5日到6日,机电学院微系统工程系邀请来自中航工业测试计量技术研究所、上海计量院、中国电科第13研究所的计量专家,在我院会议室举办了“微纳尺度测量与溯源性计量技术”专题研讨会。

来自国防计量测试技术重点实验室的朱振宇研究员就“纳米计量及其发展”探讨了过去20年间,纳米几何计量、纳米精度计量、以及纳米尺度计量的发展历程及未来存在的问题展望。

来自13研究所的韩志国高工就“微纳尺寸标准样片的研制与定标技术”研究,介绍了他们在微纳尺寸标准样片研制方面的工作,以及国外在这方面的最新进展。

来自上海计量院的雷李华高工就“微纳米标准样板的测量与溯源性研究”做了精彩报告;机电学院黎永前教授就“突破衍射极限的微纳结构光学计量”做了报告。

会议讨论期间,与会专家就纳米溯源性计量技术研究领域的关键问题交换了深入探讨。参加此次研讨会的还有梁法国主任、李强研究员、任冬梅研究员、以及李锁印研究员。会议由我院黎永前教授和刘笃喜副教授主持。

我院仪器科学与技术学科的研究生旁听了研讨会。

关闭窗口

版权所有 © 西北工业大学机电学院   技术支持:网络与教育技术中心 联系我们:npujdxy@nwpu.edu.cn